根据最新信息《Ieee Design & Test》期刊在JCR分区中的排名如下:
按JIF指标学科分区学科为COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE,收录子集:SCIE,位于Q3区,排名42 / 59,百分位29.7%;ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC,收录子集:SCIE,位于Q3区,排名211 / 352,百分位40.2%;按JCI指标学科分区在学科为COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE,收录子集:SCIE,位于Q3区,排名40 / 59,百分位33.05%ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC,收录子集:SCIE,位于Q3区,排名217 / 354,百分位38.84%。
投稿咨询按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q3 | 42 / 59 |
29.7% |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 211 / 352 |
40.2% |
按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q3 | 40 / 59 |
33.05% |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 217 / 354 |
38.84% |
这表明该刊在计算机:硬件领域具有较高的学术影响力和认可度。此外,该刊创刊时间:2013年,影响因子:1.9,出版周期:6 issues/year、出版商:IEEE Computer Society以及收录情况等信息也为其学术影响力提供了有力支持。
影响因子:是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据,现已成为国际上通用的期刊评价指标,不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标,而且也是测度期刊的学术水平,乃至论文质量的重要指标。
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