《Ieee Design & Test》杂志的影响因子为1.9。
影响因子：是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据，现已成为国际上通用的期刊评价指标，不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标，而且也是测度期刊的学术水平，乃至论文质量的重要指标。
以下是如何查看影响因子的几种方法：
一、通过专业数据库查询
1. 通过Web of Science数据库查询：Web of Science是一个权威的学术数据库，提供期刊影响因子的官方数据。
2.中国知网（CNKI）：在CNKI中，用户可以通过期刊导航功能搜索目标期刊，并在期刊详情页面查看其影响因子。
3.使用JCR：JCR是专门提供期刊引证报告的工具，隶属于Web of Science。
二、查阅学术期刊官方网站
许多学术期刊会在其官方网站上公布最新的影响因子数据。
三、参考学术权威指南和排名
影响因子是一个动态变化的指标，会随着时间的推移而发生变化。因此，在查看影响因子时，需要关注其发布的时间点。
《Ieee Design & Test》杂志创刊于2013年，由IEEE Computer Society出版商出版，出版周期为6 issues/year，国际简称为IEEE DES TEST，中文名称IEEE设计与测试。该杂志旨在及时、准确、全面地报道国内外COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC领域取得的最新研究成果、工作进展及学术动态、技术革新等，促进学术交流，鼓励学术创新。
《Ieee Design & Test》杂志分区情况
中科院分区：在中科院最新升级版分区表中，大类学科工程技术位于4区，小类学科COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE计算机：硬件位于4区。
JCR分区：根据最新JCR分区， 按JIF指标学科分区中学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，位于Q3区，排名42 / 59，百分位29.7%；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q3区，排名211 / 352，百分位40.2%； 按JCI指标学科分区中学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，位于Q3区，排名40 / 59，百分位33.05%。ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q3区，排名217 / 354，百分位38.84%。
投稿咨询| 按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q3 | 42 / 59 |
29.7% |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 211 / 352 |
40.2% |
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q3 | 40 / 59 |
33.05% |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 217 / 354 |
38.84% |
《Ieee Design & Test》杂志评价数据
影响因子：1.9
Gold OA文章占比：6.08%
CiteScore：3.8
SJR：0.489
SNIP：0.757
年发文量：59
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