关于《Ieee Electron Device Letters》杂志的查重率要求，并没有一个固定的、公开的数值标准，如果想进一步的疑问或需要了解更多信息，可以选择与杂志社取得联系或者向在线客服进行咨询。
根据学术论文查重率的通常要求，可以归纳出以下几点：
一、查重率一般要求
1.英文期刊（包括SCI期刊）通常要求查重率≤15%，部分高端期刊可能要求?≤10%。
2.EI期刊（与SCI部分重叠）通常要求≤30%，但核心部分（如摘要、结论）可能需?≤15%。
二、核心内容查重要求
1.摘要、引言、讨论、结论等关键部分的重复率通常需更低（如≤10%），这些部分更容易被查重系统检测到相似内容。
2.参考文献不计入查重率，但需正确标注，否则可能被误判为抄袭。
三、降低查重率的建议
合理引用、改写与同义替换、提前自查。
《Ieee Electron Device Letters》杂志简介
《Ieee Electron Device Letters》是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版的工程技术国际刊物，国际简称为IEEE ELECTR DEVICE L，中文名称IEEE 电子器件字母。该刊创刊于1980年，出版周期为Monthly。
《Ieee Electron Device Letters》2023年影响因子为4.1，被收录于国际知名权威数据库SCIE。
投稿咨询影响因子：是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据，现已成为国际上通用的期刊评价指标，不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标，而且也是测度期刊的学术水平，乃至论文质量的重要指标。
《Ieee Electron Device Letters》重点专注发布工程技术-工程：电子与电气领域的新研究，旨在促进和传播该领域相关的新技术和新知识。鼓励该领域研究者详细地发表他们的高质量实验研究和理论结果。根据网友分享的投稿经验，平均审稿速度为 约1.3个月 。
该杂志创刊至今，在工程技术-工程：电子与电气领域，影响力非凡，对来稿文章质量要求很高，稿件投稿过审难度很大，刊登文章的学术水平和编辑质量在同类杂志中均名列前茅。如果你想在该杂志上发表论文，你可以向编辑部提交文章，但文章必须具有重要意义并代表该领域专业的发展。我们欢迎广大同领域的研究者提交投稿。
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