《Ieee Electron Device Letters》杂志的影响因子为4.1。
影响因子：是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据，现已成为国际上通用的期刊评价指标，不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标，而且也是测度期刊的学术水平，乃至论文质量的重要指标。
以下是如何查看影响因子的几种方法：
一、通过专业数据库查询
1. 通过Web of Science数据库查询：Web of Science是一个权威的学术数据库，提供期刊影响因子的官方数据。
2.中国知网（CNKI）：在CNKI中，用户可以通过期刊导航功能搜索目标期刊，并在期刊详情页面查看其影响因子。
3.使用JCR：JCR是专门提供期刊引证报告的工具，隶属于Web of Science。
二、查阅学术期刊官方网站
许多学术期刊会在其官方网站上公布最新的影响因子数据。
三、参考学术权威指南和排名
影响因子是一个动态变化的指标，会随着时间的推移而发生变化。因此，在查看影响因子时，需要关注其发布的时间点。
《Ieee Electron Device Letters》杂志创刊于1980年，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版，出版周期为Monthly，国际简称为IEEE ELECTR DEVICE L，中文名称IEEE 电子器件字母。该杂志旨在及时、准确、全面地报道国内外工程技术-工程：电子与电气领域取得的最新研究成果、工作进展及学术动态、技术革新等，促进学术交流，鼓励学术创新。
《Ieee Electron Device Letters》杂志分区情况
中科院分区：在中科院最新升级版分区表中，大类学科工程技术位于2区，小类学科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：电子与电气位于2区。
JCR分区：根据最新JCR分区， 按JIF指标学科分区中学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q2区，排名94 / 352，百分位73.4%； 按JCI指标学科分区中学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q1区，排名77 / 354，百分位78.39%。
投稿咨询| 按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 94 / 352 |
73.4% |
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 77 / 354 |
78.39% |
《Ieee Electron Device Letters》杂志评价数据
影响因子：4.1
Gold OA文章占比：4.62%
CiteScore：8.2
SJR：1.25
SNIP：1.5
年发文量：477
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