根据最新信息《Microelectronics Reliability》期刊在JCR分区中的排名如下：
按JIF指标学科分区学科为ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收录子集：SCIE，位于Q3区，排名239 / 352，百分位32.2%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收录子集：SCIE，位于Q4区，排名113 / 140，百分位19.6%；PHYSICS, APPLIED，收录子集：SCIE，位于Q3区，排名131 / 179，百分位27.1%；按JCI指标学科分区在学科为ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收录子集：SCIE，位于Q4区，排名272 / 354，百分位23.31%NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收录子集：SCIE，位于Q4区，排名114 / 140，百分位18.93%PHYSICS, APPLIED，收录子集：SCIE，位于Q4区，排名140 / 179，百分位22.07%。
投稿咨询| 按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 239 / 352 |
32.2% |
| 学科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 113 / 140 |
19.6% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 131 / 179 |
27.1% |
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 272 / 354 |
23.31% |
| 学科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 114 / 140 |
18.93% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 140 / 179 |
22.07% |
这表明该刊在工程：电子与电气领域具有较高的学术影响力和认可度。此外，该刊创刊时间：1964年，影响因子：1.6，出版周期：Monthly、出版商：Elsevier Ltd以及收录情况等信息也为其学术影响力提供了有力支持。
影响因子：是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据，现已成为国际上通用的期刊评价指标，不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标，而且也是测度期刊的学术水平，乃至论文质量的重要指标。
声明：以上信息摘自网络公开资料，如有不准确，请联系我们。
