《Microelectronics Reliability》杂志的影响因子为1.6。
影响因子：是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据，现已成为国际上通用的期刊评价指标，不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标，而且也是测度期刊的学术水平，乃至论文质量的重要指标。
以下是如何查看影响因子的几种方法：
一、通过专业数据库查询
1. 通过Web of Science数据库查询：Web of Science是一个权威的学术数据库，提供期刊影响因子的官方数据。
2.中国知网（CNKI）：在CNKI中，用户可以通过期刊导航功能搜索目标期刊，并在期刊详情页面查看其影响因子。
3.使用JCR：JCR是专门提供期刊引证报告的工具，隶属于Web of Science。
二、查阅学术期刊官方网站
许多学术期刊会在其官方网站上公布最新的影响因子数据。
三、参考学术权威指南和排名
影响因子是一个动态变化的指标，会随着时间的推移而发生变化。因此，在查看影响因子时，需要关注其发布的时间点。
《Microelectronics Reliability》杂志创刊于1964年，由Elsevier Ltd出版商出版，出版周期为Monthly，国际简称为MICROELECTRON RELIAB，中文名称微电子可靠性。该杂志旨在及时、准确、全面地报道国内外工程技术-工程：电子与电气领域取得的最新研究成果、工作进展及学术动态、技术革新等，促进学术交流，鼓励学术创新。
《Microelectronics Reliability》杂志分区情况
中科院分区：在中科院最新升级版分区表中，大类学科工程技术位于4区，小类学科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：电子与电气位于4区。
JCR分区：根据最新JCR分区， 按JIF指标学科分区中学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q3区，排名239 / 352，百分位32.2%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，位于Q4区，排名113 / 140，百分位19.6%；PHYSICS, APPLIED，位于Q3区，排名131 / 179，百分位27.1%； 按JCI指标学科分区中学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q4区，排名272 / 354，百分位23.31%。NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，位于Q4区，排名114 / 140，百分位18.93%。PHYSICS, APPLIED，位于Q4区，排名140 / 179，百分位22.07%。
投稿咨询| 按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 239 / 352 |
32.2% |
| 学科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 113 / 140 |
19.6% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 131 / 179 |
27.1% |
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 272 / 354 |
23.31% |
| 学科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 114 / 140 |
18.93% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 140 / 179 |
22.07% |
《Microelectronics Reliability》杂志评价数据
影响因子：1.6
Gold OA文章占比：14.36%
CiteScore：3.3
SJR：0.394
SNIP：0.801
年发文量：310
声明：以上信息摘自网络公开资料，如有不准确，请联系我们。
