根据最新信息《Mapan-journal Of Metrology Society Of India》期刊在JCR分区中的排名如下：
按JIF指标学科分区学科为INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收录子集：SCIE，位于Q4区，排名62 / 76，百分位19.1%；PHYSICS, APPLIED，收录子集：SCIE，位于Q4区，排名157 / 179，百分位12.6%；按JCI指标学科分区在学科为INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收录子集：SCIE，位于Q4区，排名68 / 76，百分位11.18%PHYSICS, APPLIED，收录子集：SCIE，位于Q4区，排名152 / 179，百分位15.36%。
投稿咨询| 按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q4 | 62 / 76 |
19.1% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 157 / 179 |
12.6% |
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q4 | 68 / 76 |
11.18% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 152 / 179 |
15.36% |
这表明该刊在仪器仪表领域具有较高的学术影响力和认可度。此外，该刊创刊时间：2009年，影响因子：1，出版周期：Quarterly、出版商：Springer India以及收录情况等信息也为其学术影响力提供了有力支持。
影响因子：是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据，现已成为国际上通用的期刊评价指标，不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标，而且也是测度期刊的学术水平，乃至论文质量的重要指标。
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