根据最新信息《Journal Of Micromechanics And Microengineering》期刊在JCR分区中的排名如下：
按JIF指标学科分区学科为ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收录子集：SCIE，位于Q2区，排名170 / 352，百分位51.8%；INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收录子集：SCIE，位于Q2区，排名29 / 76，百分位62.5%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收录子集：SCIE，位于Q3区，排名102 / 140，百分位27.5%；PHYSICS, APPLIED，收录子集：SCIE，位于Q3区，排名96 / 179，百分位46.6%；按JCI指标学科分区在学科为ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收录子集：SCIE，位于Q3区，排名200 / 354，百分位43.64%INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收录子集：SCIE，位于Q3区，排名46 / 76，百分位40.13%NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收录子集：SCIE，位于Q3区，排名82 / 140，百分位41.79%PHYSICS, APPLIED，收录子集：SCIE，位于Q3区，排名106 / 179，百分位41.06%。
投稿咨询| 按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 170 / 352 |
51.8% |
| 学科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 29 / 76 |
62.5% |
| 学科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 102 / 140 |
27.5% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 96 / 179 |
46.6% |
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 200 / 354 |
43.64% |
| 学科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q3 | 46 / 76 |
40.13% |
| 学科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 82 / 140 |
41.79% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 106 / 179 |
41.06% |
这表明该刊在工程：电子与电气领域具有较高的学术影响力和认可度。此外，该刊创刊时间：1991年，影响因子：2.4，出版周期：Monthly、出版商：IOP Publishing Ltd.以及收录情况等信息也为其学术影响力提供了有力支持。
影响因子：是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据，现已成为国际上通用的期刊评价指标，不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标，而且也是测度期刊的学术水平，乃至论文质量的重要指标。
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