根据最新信息《Ieee Transactions On Electron Devices》期刊在JCR分区中的排名如下：
按JIF指标学科分区学科为ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收录子集：SCIE，位于Q2区，排名143 / 352，百分位59.5%；PHYSICS, APPLIED，收录子集：SCIE，位于Q2区，排名68 / 179，百分位62.3%；按JCI指标学科分区在学科为ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收录子集：SCIE，位于Q2区，排名145 / 354，百分位59.18%PHYSICS, APPLIED，收录子集：SCIE，位于Q2区，排名61 / 179，百分位66.2%。
投稿咨询| 按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 143 / 352 |
59.5% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 68 / 179 |
62.3% |
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 145 / 354 |
59.18% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 61 / 179 |
66.2% |
这表明该刊在物理：应用领域具有较高的学术影响力和认可度。此外，该刊创刊时间：1954年，影响因子：2.9，出版周期：Monthly、出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.以及收录情况等信息也为其学术影响力提供了有力支持。
影响因子：是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据，现已成为国际上通用的期刊评价指标，不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标，而且也是测度期刊的学术水平，乃至论文质量的重要指标。
声明：以上信息摘自网络公开资料，如有不准确，请联系我们。
